长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本，助力半导体缺陷检测 judy / 周四, 15 八月 2024 - 14:43 产品采用先进的背照式技术，在GLT5009BSI可见光版本的基础上，DUV版本极大提升了UV范围的灵敏度 阅读更多 关于 长光辰芯发布GLT5009BSI-DUV版本，助力半导体缺陷检测登录 发表评论