纳芯微电子

纳芯微NSI6602Ux创新性集成了RDY状态反馈功能，可实时输出芯片供电状态，直接反馈至MCU/DSP，实现芯片级“就绪可见”。

“为什么我在学习板/开发板上面测试都是正常的，上工程样机的时候，ADC采样就会有问题？”工程师在使用DSP进行ADC采样测试的时候，有可能会遇到以上难以理解的问题。

本文将从系统安全概念、ISO 26262硬件要素评估方法论及典型测试实践三个层面展开解析，为功能安全系统中的芯片选型提供系统化的考量框架与决策依据。