电容去耦的一个重要问题是电容的去耦半径。大多数资料中都会提到电容摆放要尽量靠近芯片，多数资料都是从减小回路电感的角度来谈这个摆放距离问题。确实，减小电感是一个重要原因，但是还有一个重要的原因大多数资料都没有提及，那就是电容去耦半径问题。如果电容摆放离芯片过远，超出了它的去耦半径，电容将失去它的去耦的作用。

Murata LXRFZZHAAA-028评估套件设计用于评估 LXRFZZHAAA-026 HF（高频）RFID（射频识别）读写器。该评估套件包括读写器设备、接口板和样品标签。 LXRFZZHAAA-028评估套件的工作电压范围为4.5V至5.5V，温度范围为-25°C至65°C。

印制电路板，即PrintedCircuitBoard，简称“PCB”。如果把每个电子产品看做一个生命系统，那“电流”是所有电子生命体的血流，电子产品必须有电流才能“存活”，而“PCB”就是承载这“血流”的“命脉”。

IDC《中国可穿戴设备市场季度跟踪报告，2018年第二季度》显示，2018年第二季度中国可穿戴设备市场出货量为1371.6万台，同比增长 12.7%。基础可穿戴设备（不支持第三方应用的可穿戴设备）同比增长1.9%，而智能可穿戴设备同比增长达到77.7%。

电容器已经是我们生活中不可缺少的电子元器件之一，在安装电容器的时候我们应当避免以下几种情况下使用，众所周知电容器的好坏也受温度的影响。那么有哪些情况是我们需要注意的，工程师和新手们都要看看。

1.高温(温度超过最高使用温度)。

2.使用于反复多次急剧充放电的电路中，如快速充电用途，其使用寿命可能会因为容量下降，温度急剧上升等而缩减。

共模电压(common mode voltage):在每一导体和所规定的参照点之间(往往是大地或机架)出现的相量电压的平均值。或者说同时加在电压表两测量端和规定公共端之间的那部分输入电压。

共模干扰：一般指在两根信号线上产生的幅度相等，相位相同的噪声。

什么是共模干扰和差模干扰 ?

现在电子电路中，有很多故障是由开关电源故障引起的，而开关电源的常见故障中，又有大部分是由一些易损件损坏而引起。

比如说，在开关电源中的开关管，经常性损坏，但是开关变压器，损坏的几率却又极小!几乎可以忽略不计。

所以以下，我总结了开关电源中一些比较容易损坏的元件，以及损坏后会出现什么故障现象，分享给大家 。

1.保险管

一般来讲，从电路上说，总是存在驱动的源和被驱动的负载。如果负载电容比较大，驱动电路要把电容充电、放电，才能完成信号的跳变，在上升沿比较陡峭的时候，电流比较大，这样驱动的电流就会吸收很大的电源电流，由于电路中的电感，电阻（特别是芯片管脚上的电感，会产生反弹），这种电流相对于正常情况来说实际上就是一种噪声，会影响前级的正常工作。这就是耦合。

开关电源的寿命就如同人的寿命一样是无法预知准确的年限，但是很多大数据分析报告中有平均寿命的概念。电源也一样，影响其寿命的因数很多，所以一般电源的寿命都是以平均无故障时间来衡量的。 

 三态门，是指逻辑门的输出除有高、低电平两种状态外，还有第三种状态——高阻状态的门电路 高阻态相当于隔断状态。 三态门都有一个EN控制使能端，来控制门电路的通断。 可以具备这三种状态的器件就叫做三态(门,总线,......).

举例来说：