电子器件是一个非常复杂的系统，其封装过程的缺陷和失效也是非常复杂的。因此，研究封装缺陷和失效需要对封装过程有一个系统性的了解，这样才能从多个角度去分析缺陷产生的原因。

1. 封装缺陷与失效的研究方法论

在大多数电子系统中，降噪是一个重要设计问题。与功耗限制、环境温度变化、尺寸限制以及速度和精度要求一样，必须处理好无所不在的噪声因素，才能使最终设计获得成功。

随着电子技术的高速发展，以及无线通信技术在各领域的广泛应用，高频、高速、高密度已逐步成为现代电子产品的显著发展趋势之一。信号传输高频化和高速数字化，迫使PCB走向微小孔与埋/盲孔化、导线精细化、介质层均匀薄型化，高频高速高密度多层PCB设计技术已成为一个重要的研究领域。本文，我们主要来了解下高频PCB设计的一些实用技巧。

高频PCB

Murata BLE通用铁氧体片状磁珠设计用于类似于具有噪声频率的电阻器，降低谐振，使信号波形不失真。该磁珠的额定电流范围为5A至10A，阻抗范围为8.5mΩ至30mΩ，采用0603 (1608) 或1210 (3225) SMD外壳尺寸。该铁氧体磁珠采用镍阻挡层，具有出色的焊接耐热性。Murata BLE通用铁氧体片状磁珠具有低直流电阻（0.008mΩ至1.6mΩ），因此可用于大电流电路。

《IDC中国智能音箱设备市场月度跟踪报告》显示，2020年智能音箱市场销量3,676万台，同比下降8.6%；其中带屏智能音箱占比35.5%，销量同比增长31.0%。此次整体市场下滑主要受到疫情、渠道调整和应用场景有限三方面影响。

2020年智能音箱市场竞争格局

元件的失效直接受湿度、温度、电压、机械等因素的影响。

1、温度导致失效：

1.1环境温度是导致元件失效的重要因素。

温度变化对半导体器件的影响：构成双极型半导体器件的基本单元P-N结对温度的变化很敏感，当P-N结反向偏置时，由少数载流子形成的反向漏电流受温度的变化影响，其关系为：

ESD试验作为EMC测试标准的一项基本测试项目，如果产品的前期设计考虑不足，加上经验不够的话，往往会让人焦头烂额。一般中小型企业，如果没有专门的EMC工程师，往往这项工作就必须由硬件工程师来承担。对于整机来说，ESD抗扰能力不仅仅来自芯片的ESD耐压，PCB的布局布线，甚至与工艺结构也有密切关系。

常见的ESD试验等级为接触放电：

1级——2KV;

1、电气规则(electrical rules)

电气设计规则用来设置在电路板布线过程中所遵循的电气方面的规则，包括安全间距、短路、未布线网络和未连接引脚这四个方面的规则：

我们在电源滤波电路上可以看到各种各样的电容，100uF、10uF、100nF、10nF不同的容值，那么这些参数是如何确定的？

1. 什么是ESD保护？

ESD是Electro-Static discharge的缩写，即“静电释放”。本文介绍以下内容：ESD的产生的三种形式；什么是静电；静电的产生原因；什么是ESD（静电放电）；ESD对电子设备的影响……