提高下一代DRAM器件的寄生电容性能
judy -- 周二, 11/12/2024 - 16:10随着传统DRAM器件的持续缩小,较小尺寸下寄生电容的增加可能会对器件性能产生负面影响,未来可能需要新的DRAM结构来降低总电容
随着传统DRAM器件的持续缩小,较小尺寸下寄生电容的增加可能会对器件性能产生负面影响,未来可能需要新的DRAM结构来降低总电容
MOS管具有三个内在的寄生电容:Cgs、Cgd、Cds。这一点在MOS管的规格书中可以体现
本文中,我们将专注于前道工序 (FEOL),并演示在栅极和源极/漏极之间引入空气间隙的SEMulator3D®模型
本文从MOSFET的寄生电容的角度,结合BOOST PFC电路对Si MOSFET和SiC MOSFET展开讨论。