来自人体、环境甚至电子设备内部的静电对于精密的半导体芯片会造成各种损伤，例如穿透元器件内部薄的绝缘层;损毁MOSFET和CMOS元器件的栅极；CMOS器件中的触发器锁死;短路反偏的PN结;短路正向偏置的PN结;熔化有源器件内部的焊接线或铝线。为了消除静电释放（ESD）对电子设备的干扰和破坏，需要采取多种技术手段进行防范。

CERALOCK®的Q值低于石英晶体，此外，CERALOCK®可以在端子之间产生大电容。因此，影响CERALOCK®的噪声 (不必要的电磁噪声) 低于石英晶体。如果CERALOCK®的噪声问题仍然存在，可以通过改变振荡电路的常数将噪声抑制在特定范围。为此，通常使用如下三种方法:

关于开关电源EMI（Electro-Magnetic Interference）的研究，有些从EMI产生的机理出发，有些从EMI产生的影响出发，都提出了许多实用有价值的方案。这里分析与比较了几种有效的方案，并为开关电源EMI 的抑制措施提出新的参考建议。

开关电源电磁干扰的产生机理

现代半导体器件的规模越来越大，工作电压越来越低，导致了半导体器件对外界电磁骚扰敏感程度也大大提高。ESD对于电路引起的干扰、对元器件、电路及接口电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。目前手机的功能越来越强大，而电路板却越来越小，集成度越来远高，使得其ESD敏感越来越容易受到静电的损害。北方的天气比较干燥，容易产生静电击穿手机的电路，某些设计不好的手机就是这样突然坏的。

作者：张迪雅

据麦姆斯咨询报道，2016年，全球半导体制造设备市场规模为390.7亿美元，到2023年将达到625.6亿美元，2017年到2023年期间的复合年增长率将达到6.86%。全球半导体制造设备市场成长的主要推动因素来自研发设施的发展，电动汽车和混合动力汽车需求的增长，消费电子市场的日益增长，以及晶圆代工厂数量的增加。

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进入陶瓷电容器的首页、通过以下几种检索方法检索产品。

   印制电路板（PCB）是电子产品中电路元件和器件的支撑件。它提供电路元件和器件之间的电气连接。随着电子技术的飞速发展，PCB的密度越来越高。PCB设计的好坏对抗干扰能力影响很大。实践证明，即使电路原理图设计正确，印制电路板设计不当，也会对电子产品的可靠性产生不利影响。例如，如果印制板两条细平行线靠得很近，则会形成信号波形的延迟，在传输线的终端形成反射噪声。

 负载电容是指晶振要正常震荡所需要的电容。换句话说，晶振的频率就是在它提供的负载电容下测得的，能最大限度的保证频率值的误差。也能保证温漂等误差。晶振的负载电容值是已知数，在出厂的时候已经定下来。