从2012年开始，穿戴式设备在苹果iWatch和谷歌Glass的热炒中风生水起，有望成为继智能手机和平板电脑之后，下一代新兴消费类电子的代表产品。在穿戴式设备的快速萌芽中，本就需求旺盛的MEMS技术，因体积小、成本低、功耗低及性能出色，更成为可穿戴设备的重要支柱技术，尤其是运动及医疗电子等穿戴式产品的发展更为成熟，各种MEMS传感器也因这两大领域的崛起而受益匪浅。

       相信大家已经对电感的概念及基本原理非常熟悉，小编在这里就不进行赘述。今天的主角是电感的好兄弟——磁珠。电感和磁珠这两种器件在电子设计当中起到了不可替代的作用。本篇文章将对电感和磁珠进行全方位的对比，帮助大家理解他们之间的异同。

　　在电路当中的应用区别

电容去耦的一个重要问题是电容的去耦半径。大多数资料中都会提到电容摆放要尽量靠近芯片，多数资料都是从减小回路电感的角度来谈这个摆放距离问题。确实，减小电感是一个重要原因，但是还有一个重要的原因大多数资料都没有提及，那就是电容去耦半径问题。如果电容摆放离芯片过远，超出了它的去耦半径，电容将失去它的去耦的作用。

Murata LXRFZZHAAA-028评估套件设计用于评估 LXRFZZHAAA-026 HF（高频）RFID（射频识别）读写器。该评估套件包括读写器设备、接口板和样品标签。 LXRFZZHAAA-028评估套件的工作电压范围为4.5V至5.5V，温度范围为-25°C至65°C。

印制电路板，即PrintedCircuitBoard，简称“PCB”。如果把每个电子产品看做一个生命系统，那“电流”是所有电子生命体的血流，电子产品必须有电流才能“存活”，而“PCB”就是承载这“血流”的“命脉”。

IDC《中国可穿戴设备市场季度跟踪报告，2018年第二季度》显示，2018年第二季度中国可穿戴设备市场出货量为1371.6万台，同比增长 12.7%。基础可穿戴设备（不支持第三方应用的可穿戴设备）同比增长1.9%，而智能可穿戴设备同比增长达到77.7%。

电容器已经是我们生活中不可缺少的电子元器件之一，在安装电容器的时候我们应当避免以下几种情况下使用，众所周知电容器的好坏也受温度的影响。那么有哪些情况是我们需要注意的，工程师和新手们都要看看。

1.高温(温度超过最高使用温度)。

2.使用于反复多次急剧充放电的电路中，如快速充电用途，其使用寿命可能会因为容量下降，温度急剧上升等而缩减。

共模电压(common mode voltage):在每一导体和所规定的参照点之间(往往是大地或机架)出现的相量电压的平均值。或者说同时加在电压表两测量端和规定公共端之间的那部分输入电压。

共模干扰：一般指在两根信号线上产生的幅度相等，相位相同的噪声。

什么是共模干扰和差模干扰 ?

现在电子电路中，有很多故障是由开关电源故障引起的，而开关电源的常见故障中，又有大部分是由一些易损件损坏而引起。

比如说，在开关电源中的开关管，经常性损坏，但是开关变压器，损坏的几率却又极小!几乎可以忽略不计。

所以以下，我总结了开关电源中一些比较容易损坏的元件，以及损坏后会出现什么故障现象，分享给大家 。

1.保险管

一般来讲，从电路上说，总是存在驱动的源和被驱动的负载。如果负载电容比较大，驱动电路要把电容充电、放电，才能完成信号的跳变，在上升沿比较陡峭的时候，电流比较大，这样驱动的电流就会吸收很大的电源电流，由于电路中的电感，电阻（特别是芯片管脚上的电感，会产生反弹），这种电流相对于正常情况来说实际上就是一种噪声，会影响前级的正常工作。这就是耦合。