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高速电路中串扰引发的损耗问题

<p><em>作者:蒋修国,<a href="https://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzA5NTExMDQ4OA==&amp;mid=2649502949&am…;信号完整性&nbsp;</a></em></p>

<p>随着信号速率的提升,以及小型化产品的发展趋势,如何减小串扰变得越来越棘手。众所周知,串扰与很多因素有关系,比如传输线之间的间距,传输线耦合的长度,攻击信号的上升时间,阻抗不连续等等。因为串扰问题比较复杂,要是解决不好,还有可能会影响到其它信号完整性的问题。</p>

<p>今天给大家分享一个串扰引发损耗变大的问题。这类问题经常出现在小型化的产品、连接器、线缆等产品中。</p>

<p>首先在ADS原理图中搭建一个仿真电路,扫描仿真间距为11mil和60mil两种情况。</p>
<img alt="仿真电路" data-align="center" data-entity-type="file" data-entity-uuid="3b3135eb-9c2c-4c17-987f-3bb6c5e275f3" height="228" src="/sites/default/files/inline-images/1_36.png" width="569" />
<p>运行仿真之后查看插入损耗的结果:</p>
<img alt="运行仿真之后查看插入损耗的结果" data-align="center" data-entity-type="file" data-entity-uuid="0d6c2ee9-1584-497e-8cc9-5a7c13709930" src="/sites/default/files/inline-images/2_34.png" />
<p>Disable电路图上的R1和R2:</p>
<img alt="Disable电路图上的R1和R2" data-align="center" data-entity-type="file" data-entity-uuid="9d49072b-d316-4b8a-8ce3-98739a126804" height="230" src="/sites/default/files/inline-images/3_34.png" width="583" />
<p>仿真如下图所示:</p>
<img alt="仿真" data-align="center" data-entity-type="file" data-entity-uuid="7dd828b7-dd8b-4381-b081-ecfba01ac87e" src="/sites/default/files/inline-images/4_29.png" />
<p>从结果上分析来看,去掉电阻后,距离为60mil时,结果几乎没有变化,但是间距为11mil时,结果却完全不一致,产生了三个非常大的谐振点。这就足以导致产品不满足设计的要求。</p>

<p>从上面仿真结果中,我们可以看到解决这个问题有两个非常便捷的方式,要么拉大距离,要么做好端接。大家可以相互讨论下有没有其它的解决方案呢?答案肯定是有的,大家可以多多讨论下。</p>