AI 时代的“供电堆栈战争”:从 IEDM 2025 看英特尔代工的深沟槽电容突围

作者:电子创新网编辑部

TSMC、Samsung、Intel Foundry 三方对比下的下一代电源完整性竞争

在 2025 年 IEEE 国际电子器件大会(IEDM 2025)上,英特尔代工(Intel Foundry Services, IFS)披露了面向 AI 时代系统级芯片(SoC)的关键技术突破——下一代深沟槽嵌入式金属–绝缘体–金属(MIM)去耦电容器。
这一进展,被产业界广泛视为“先进制程下一个真正可拉开差距的技术点”。

在晶体管微缩进入 2nm 世代后,“GAA 化”不再是差异化,而是标配。各家代工厂在晶体管结构、EUV 制程等方面逐渐趋同,使得供电网络(Power Delivery Network,PDN)、电源完整性(Power Integrity, PI)、背面供电、嵌入式去耦电容等“深层结构”,成为先进制程的真正竞争焦点。

英特尔此次发布的深沟槽 MIM decap,就是这场新竞赛的前沿。

晶体管.png

图源:英特尔

一、新材料体系的突破:三条面向未来的潜在路线

IFS 在 IEDM 2025 展示了三类可用于深沟槽 MIM 结构的新型介电材料,分别对应三条未来可能的工艺路线。

路线 1:HfZrO(HZO)——铁电材料驱动的跨代飞跃

HZO 的铁电极化机制能在纳米尺度下保持高 κ 值,是目前业界最具颠覆性的新材料:

  • 自发极化带来高等效介电常数

  • 与 CMOS 工艺兼容性良好

  • 在深沟槽结构中可进一步提高电容密度

  • 适合未来 1.x nm 节点的长期扩展

其潜力不仅在 decap,也可能与铁电存储、铁电 FET 形成器件层面的“生态叠加”。

**挑战:**偏压、温漂等非线性行为需要系统级模型配合。

路线 2:TiO(二氧化钛)——最稳健的量产候选

TiO 是材料供应链最成熟的高 κ 方案:

  • ALD 成膜窗口宽

  • 稳定性强、界面工程简单

  • 漏电性能优异

  • 更适合服务器、AI 推理等长寿命芯片

可能成为最先量产的深沟槽 MIM 方案。

路线 3:SrTiO(STO)——冲击极限 κ 值的钙钛矿路线

STO 具备产业界可行的最高 κ 值之一,理论上最有潜力突破 100 fF/μm² 密度档位。

  • 在深沟槽结构中强化收益巨大

  • 对极端电流波动的 AI 加速器极具价值

但工艺挑战最大:界面稳定性、缺陷密度、退火要求均远高于普通介质。

STO 更像“面向后 1nm 世代的储备性技术”。

二、性能突破:从“材料改善”跃迁到“系统级电源稳定性提升”

英特尔公布的性能数据明显超过行业当前路线:

  • 电容密度:60–98 fF/μm²(跨代跃升)

  • 漏电:比行业目标低 1000 倍(静态能耗显著下降)

  • 可靠性:击穿电压、漂移均保持先进水准

这背后意味着:

先进节点的电源完整性瓶颈,第一次在材料与结构层面被系统性突破。

这类深沟槽 decap 对 AI/HPC 高峰值电流的影响是直接的:

  • 抑制 di/dt 引发的瞬态压降(droop)

  • 减少功率噪声对逻辑计算的干扰

  • 提升芯片频率稳定性

  • 在有限面积内释放更多功能模块空间

对于未来 1000 A 级电流切换的 AI 加速器,这些增益极具价值。

三、产业竞争格局:三星 vs 台积电 vs 英特尔的路线分野

深沟槽 MIM 去耦电容不只是“材料进步”,而是先进制程竞争中继晶体管之后的下一主战场。
三大代工厂路线差异显著。

TSMC:稳健推进,但深沟槽 MIM 暂未公开明确路线

台积电的 A16/N2/N2P 大方向仍是:

  • 平面 MIM 电容堆叠微增强

  • κ 值提升

  • 漏电控制

  • 可靠性优先

台积电在能见度上更谨慎,鲜少公开深沟槽 MIM 动向。

其优势在于:

  • 最成熟的量产体系

  • 最强的 BEOL 工程稳定度

  • EUV/CoWoS/N3B 在市场占据主导

但其技术路径的瓶颈也清晰:

  • 平面 MIM 的密度提升已接近物理极限

  • 对 AI 峰值电流的支持不足以形成差异化

  • 若英特尔率先量产深沟槽 decap,台积电可能在“真实性能”层面首次遇到竞争压力

台积电的策略依旧稳健,但在未来两代节点中,是否引入深沟槽 decap 或类似结构将成为关键决策点

Samsung Foundry:拥有 DRAM 深沟槽积累,但逻辑迁移仍具挑战

三星的独特优势是:

  • 在 DRAM 深沟槽电容(DT-cap)量产超过十年

  • 在刻蚀、超高深宽比结构、ALD 方面经验深厚

  • 理论上最有能力快速追赶英特尔路线

但 DRAM → Logic 迁移涉及完全不同的工艺位置和可靠性要求:

  • DRAM 深沟槽在 FEOL,而逻辑      MIM decap 在 BEOL

  • AI/HPC 芯片的寿命、偏压稳定性要求远高于存储

  • DRAM 优化方向是储能,逻辑 decap 优化方向是瞬态抑振

三星可能会成为英特尔最接近的跟随者,但其路线仍需要更多工艺耦合验证。

Intel Foundry:率先将“供电堆栈”作为差异化武器

英特尔的战略态度是三家中最明确、最激进的。

1. 来自服务器 CPU 的深厚 PI 底层技术

英特尔在 x86 CPU 的长期经验,使其对:

  • 阻抗建模

  • droop 控制

  • 高频电源噪声

  • 多源供电设计

具备产业界独有的深度积累。

2. PowerVia(背面供电)+ 深沟槽 decap 的协同效果

英特尔是全球唯一同时推进:

  • 背面供电网络(PowerVia)

  • 深沟槽 MIM decap

  • 3D 封装级电源管理(EMIB + Foveros)

  • AI/HPC 中的整体 PDN 架构优化

的厂商。

其技术组合正在形成“供电堆栈(Power Stack)”的系统竞争力。
供电主干由 PowerVia 提供,瞬态抑制由深沟槽 decap 完成,两者互补。

3. IFS 的商业逻辑:从“nm 竞争”切换到“真实 AI 性能竞争”

台积电的路线更倾向稳定量产;
英特尔代工的路线更倾向差异化创新。

IFS 此次在 IEDM 的展示,就是明确告诉市场:

在 AI 时代,决定芯片性能的不是 2nm vs 1.8nm,而是供电堆栈能否跟上峰值功率需求。

这为 IFS 赢得了一个真正“可差异化、可商业化、可提前量产”的突破点。

四、趋势判断:先进制程竞争正在从“nm 之争”转向“供电堆栈之争”

晶体管、EUV、GAA 不再是决定性差异,三家路线在此都高度一致,但在 PDN、电容结构、材料体系、背面供电方面,差异开始重新拉开。

未来 5 年先进制程的竞争逻辑将发生结构性改变:

竞争焦点时代

主导要素

特征

1)14nm–5nm:晶体管时代

FinFET、EUV

TSMC 全面领先

2)3nm–2nm:GAA 时代

晶体管结构趋同

三星追赶、产品差异收敛

3)2026–2032:供电堆栈时代(即将开启)

PowerVia、深沟槽 decap、3D PDN

英特尔凭“Power Stack”建立差异化

简单讲:

下一代先进工艺的竞争,将从“可以测的 nm”,转向“无法简化为 nm 的系统级供电能力”。

深沟槽电容,就是这场“供电堆栈战争”的前沿火力点。

结语

IEDM 2025 上,英特尔代工展示的下一代深沟槽 MIM 去耦电容,不是孤立的材料突破,而是其构建“AI 时代供电堆栈”战略的重要拼图。

台积电仍维持稳健路线;
三星具备 DRAM 深沟槽的底层优势;
英特尔则选择用系统级创新打开代工市场的突破口。

未来三到五年,AI 芯片需求将进一步扩大“功率密度—瞬态电流—供电完整性”之间的矛盾。
而深沟槽 MIM decap 的规模化量产,将直接影响 AI 加速器、CPU、GPU 的真实性能上限。

代工竞争正在进入新纪元。

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